IC 测试基本原理：drive inputs to the DUT(device under test), and measures signals
from the DUT
给一个输入，根据DUT的逻辑来测量输出
Digital: drive low/high, measure low/high
输入高低电平或电流， 测量高低电平或电流；
Analog: drive sine singal, measure signal-to-noise ratio(SNR) ;
输入sin波，测量信噪比；
这里需要感谢傅立叶：
任何一个波形都可以分解成无限多个sine波的叠加；
时域和频域可以相互转换
RF: ?
Memory: ?